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Volume 24, Issue 12, Dec 2003
CONTENTS
介电常数对比和填充率对光子晶体中光子禁带和局域态的调节(英文)
陈沁, 黄永箴, 国伟华, 于丽娟
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1233-1238
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用CMOS工艺改善集成开关电容DC-DC变换器的特性(英文)
隋晓红, 陈治明, 赵敏玲, 余宁梅, 王立志
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1239-1243
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5Gb/s 0.25μm CMOS限幅放大器(英文)
赵晖, 任俊彦, 章倩苓
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1244-1249
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900MHz CMOS锁相环/频率综合器(英文)
胡艳, 王志功, 冯军, 熊明珍
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1250-1254
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Vg=Vd/2)应力模式下宽度变窄对HALO-pMOSFETs退化的影响(英文)
胡靖, 赵要, 许铭真, 谭长华
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1255-1260
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新型薄膜SOI高压MOSFET的研制(英文)
李文宏, 罗晋生
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1261-1265
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一种新的光学临近校正方法(英文)
李卓远, 吴为民, 王旸, 洪先龙
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1266-1271
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注C~+外延硅的光致发光特性
李玉国, 王强, 薛成山, 李怀祥, 石礼伟
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1272-1275
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Mn~+离子注入的GaN薄膜的光学性质及其磁性
李杰, 张荣, 修向前, 卢佃清, 俞慧强, 顾书林, 沈波, 郑有炓
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1276-1279
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p型GaN材料的表面物理特性
薛松, 韩彦军, 郭文平, 孙长征, 郝智彪, 罗毅
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1280-1284
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面向对注氢硅片中微结构的影响
肖清华, 屠海令, 王敬, 周旗钢, 张果虎
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1285-1288
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双异质外延SOI材料Si/γ-Al_2O_3/Si的外延生长
谭利文, 王俊, 王启元, 郁元桓, 邓惠芳, 王建华, 林兰英
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1289-1292
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相位误差对AWG波分复用器非相邻通道串扰影响的分析
李蔚, 刘德明, 黄德修
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1293-1296
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基于矢量光场的VCSEL数值模型
赵鼎, 林世鸣
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1297-1302
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大气状态下AFM针尖诱导氧化加工Ti膜的机理分析
匡登峰, 刘庆纲, 胡小唐, 郭维廉, 张世林
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1303-1306
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一种精确检测半导体二极管正向电特性的新方法
王存达, 曾志斌, 张国义, 沈君, 朱传云
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1307-1311
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热光Si共振腔型可调谐滤波器
黄昌俊, 左玉华, 成步文, 毛容伟, 李传波, 余金中, 王启明
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1312-1317
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MOS环振式数字加速度传感器
张兆华, 岳瑞峰, 刘理天
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1318-1323
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12位80MHz采样率具有梯度误差补偿的CMOS电流舵D/A转换器实现
江金光, 何怡刚, 吴杰
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1324-1329
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标准数字CMOS工艺中LC谐振回路的改进和应用
苏彦锋, 王涛, 朱臻, 洪志良
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1330-1334
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影响全息光刻图形质量的因素
陈芬, 周亚训, 冯伯儒, 张锦
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1335-1339
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一个集成电路工艺诊断实例
严利人, 李瑞伟, 徐春林
Chin. J. Semicond.  2003, 24(12): 1340-1344
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