对少数载流子寿命横向非均匀分布（minority-carrier life time lateral non-uniform distribution，MLD）结构的快恢复二极管进行了理论研究．首先利用MLD二极管n型基区内部少数载流子在横向上的分布形态，给出了MLD结构提高快恢复二极管的反恢时间温度（trr-T）稳定性的一个定性解释，然后利用“平均寿命”对MLD二极管的trr-T特性进行了讨论．模拟结果证明了理论分析的正确性．