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MLD结构快恢复二极管trr-T特性的理论分析[J]. Journal of Semiconductors, 2005, In Press.
MLD结构快恢复二极管trr-T特性的理论分析[J]. Chin. J. Semicond., 2005, 26(1): 126.
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MLD结构快恢复二极管trr-T特性的理论分析
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Abstract
对少数载流子寿命横向非均匀分布(minority-carrier life time lateral non-uniform distribution,MLD)结构的快恢复二极管进行了理论研究.首先利用MLD二极管n型基区内部少数载流子在横向上的分布形态,给出了MLD结构提高快恢复二极管的反恢时间温度(trr-T)稳定性的一个定性解释,然后利用“平均寿命”对MLD二极管的trr-T特性进行了讨论.模拟结果证明了理论分析的正确性. -
References
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