Chin. J. Semicond. > 1999, Volume 20 > Issue 8 > 662-666
|

CONTENTS

InAs量子点的原子力显微镜测试结果分析

龚谦 , 梁基本 , 徐波 , 丁鼎 , 王占国 , 裘晓辉 , 商广义 and 白春礼

+ Author Affiliations

PDF

    • Search

    Advanced Search >>

    GET CITATION

    龚谦, 梁基本, 徐波, 丁鼎, 王占国, 裘晓辉, 商广义, 白春礼. InAs量子点的原子力显微镜测试结果分析[J]. 半导体学报(英文版), 1999, 20(8): 662-666.
    shu

    Export: BibTex EndNote

    Article Metrics

    Article views: 2782 Times PDF downloads: 1248 Times Cited by: 0 Times

    History

    Received: 20 August 2015 Revised: Online: Published: 01 August 1999

    Catalog

      Email This Article

      User name:
      Email:*请输入正确邮箱
      Code:*验证码错误
      Send
      Article Navigation >  Journal of Semiconductors  > 1999  >  20(8): 662-666
      龚谦, 梁基本, 徐波, 丁鼎, 王占国, 裘晓辉, 商广义, 白春礼. InAs量子点的原子力显微镜测试结果分析[J]. 半导体学报(英文版), 1999, 20(8): 662-666.
      Citation:
      龚谦, 梁基本, 徐波, 丁鼎, 王占国, 裘晓辉, 商广义, 白春礼. InAs量子点的原子力显微镜测试结果分析[J]. 半导体学报(英文版), 1999, 20(8): 662-666.
      shu

      • Received Date: 2015-08-20

      Catalog

        Journal of Semiconductors © 2017 All Rights Reserved   京ICP备05085259号-2

        /

        DownLoad:  Full-Size Img  PowerPoint
        Return
        Return