硅片表面热诱导微缺陷的行为及其主要来源

Abstract: 本文分析了表面热诱导微缺陷与体缺陷的相互作用,确定了表面热诱导微缺陷的主要来源,提出了消除的方法及其在检测漩涡缺陷方面的应用.

    HTML

Relative (20)

Journal of Semiconductors © 2017 All Rights Reserved