Chin. J. Semicond.
1991, 12(4): 218-223
null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1991, 12(4): 218.
祁明维, 谭淞生, 朱斌, 蔡培新, 顾为芳, 许学敏, 施天生, 阙端麟, 李立本. 含氮CZ-Si中N-N对的退火行为[J]. Chin. J. Semicond., 1991, 12(4): 218..Export: BibTex EndNote
祁明维, 谭淞生, 朱斌, 蔡培新, 顾为芳, 许学敏, 施天生, 阙端麟, 李立本. 含氮CZ-Si中N-N对的退火行为[J]. Chin. J. Semicond., 1991, 12(4): 218...