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Volume 1, Issue 4, Apr 1980

• CONTENTS

  用赝势法计算四元合金In_(1-x)Ga_xAs_yP_(1-y)的能带

  陆奋, 张开明

  Chin. J. Semicond.  1980, 1(4): 257
  

  混晶的长波长光学声子谱

  吴汲安

  Chin. J. Semicond.  1980, 1(4): 267
  

  掺Te-GaAs单晶中微缺陷的透射电镜研究

  范缇文, 何宏家, 白玉珂, 费雪英

  Chin. J. Semicond.  1980, 1(4): 274
  

  硅中硼扩散运动对氧化层错的影响

  鲍希茂, 嵇福权, 黄信凡

  Chin. J. Semicond.  1980, 1(4): 280
  

  用反射光谱鉴定蓝宝石(或尖晶石)衬底上外延硅膜

  半导体光学性质小组

  Chin. J. Semicond.  1980, 1(4): 286
  

  变截面场效应管

  朱恩均

  Chin. J. Semicond.  1980, 1(4): 292
  

  双极性功率晶体管稳定热斑出现过程的研究

  高光渤

  Chin. J. Semicond.  1980, 1(4): 298
  

  LSI CAD制版中的图形转换

  庄文君, 李全圣, 沈永周

  Chin. J. Semicond.  1980, 1(4): 304
  

  注Z_n~+-GaAs的激光退火及GaAs欧姆接触的激光合金化

  弓继书, 郑宝真, 庄蔚华, 徐仲英

  Chin. J. Semicond.  1980, 1(4): 311
  

  极性晶体中慢激子极化电势的性质

  顾世洧

  Chin. J. Semicond.  1980, 1(4): 318
  

  LPE-GaAs中残留杂质的研究

  林兰英, 方兆强, 周伯骏, 朱素珍, 向贤碧, 吴让元

  Chin. J. Semicond.  1980, 1(4): 319
  

  集成肖特基逻辑(ISL)

  杨大炎, 许平

  Chin. J. Semicond.  1980, 1(4): 322
  

  BCCD的一维模型及其数值分析,

  崔成烈

  Chin. J. Semicond.  1980, 1(4): 325
  

  大规模集成电路测试图案产生方法的研究,

  林雨

  Chin. J. Semicond.  1980, 1(4): 329
  

  各种光致抗蚀剂的无显影刻蚀特性,

  无显影光刻协作组

  Chin. J. Semicond.  1980, 1(4): 333
  

  扫描电子束无显影光刻技术,

  孙毓平, 韩阶平, 梁俊厚, 葛璜, 梁久春

  Chin. J. Semicond.  1980, 1(4): 335
  

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