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Volume 14, Issue 3, Mar 1993

• CONTENTS

  MBE-GaAs/Si材料应变层的调制光谱研究

  胡雨生, 胡福义, 汪乐, 李爱珍, 范伟栋

  Chin. J. Semicond.  1993, 14(3): 133
  

  多孔硅的电致发光研究

  张甫龙, 郝平海, 史刚, 侯晓远, 丁训民, 黄大鸣, 王迅

  Chin. J. Semicond.  1993, 14(3): 139
  

  微乳状液中CdS超微粒制备与光学特性研究

  李守田, 邹炳锁, 张岩, 肖良质, 李铁津, 赵家龙, 张继森, 黄世华, 虞家琪

  Chin. J. Semicond.  1993, 14(3): 143
  

  亚微米MOSFET热载流子蜕变的二维计算机模拟和分析

  张锡盛, 何新平, 李志坚

  Chin. J. Semicond.  1993, 14(3): 148
  

  p型GaP与Pd/Zn/Pd欧姆接触的冶金性质及界面特性

  张福甲, 彭军

  Chin. J. Semicond.  1993, 14(3): 154
  

  淀积参数对ITO膜电阻率的影响

  张怀武, 许武毅, 过壁君

  Chin. J. Semicond.  1993, 14(3): 160
  

  BF_2~+注入硅分子效应的椭偏谱多层分析

  朱文玉, 李晓勤, 林成鲁, 陈树光, 徐运海

  Chin. J. Semicond.  1993, 14(3): 166
  

  含氮CZ硅力学行为研究

  石志仪, 谢书银, 佘思明, 李立本, 张锦心

  Chin. J. Semicond.  1993, 14(3): 174
  

  MOCVD生长CdTe薄层的缺陷研究

  彭承, 陆叶华, 孙恒慧, 唐文国, 李自元

  Chin. J. Semicond.  1993, 14(3): 181
  

  非晶碳膜电子辐照性质的研究

  顾书林, 何宇亮, 王志超

  Chin. J. Semicond.  1993, 14(3): 185
  

  气相色谱法测定薄膜中氢含量

  吕惠云, 陈克铭

  Chin. J. Semicond.  1993, 14(3): 189
  

  p-InGaAs/n-InGaAs MSM光电探测器研究

  史常忻, A.Mesquida Kusters, A.Kohl, R.Muller, K.Heime

  Chin. J. Semicond.  1993, 14(3): 194
  

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