Journal of Semiconductors

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Volume 22, Issue 1, Jan 2001

CONTENTS

带寄生及匹配约束的CMOS模拟电路模块的STACK生成优化方法(英文)

曾璇, 李明原, 赵文庆, 唐璞山, 周电

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 1

1.55μm In_(1 - x - y) Ga_y Al_x As压缩应变量子阱激光器的近似阱宽和光增益公式(英文)

张冶金, 陈维友, 蒋恒, 刘彩霞, 刘式墉

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 11

栅控二极管正向 R- G电流对 SOI体陷阱特征和硅膜结构的依赖性(英文)

何进, 黄如, 张兴, 孙飞, 王阳元

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 18

关态应力下 P- MOSFETs的退化(英文)

杨存宇, 王子欧, 谭长华, 许铭真

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 25

离子损伤对等离子体辅助分子束外延生长的 Ga NAs/ Ga As和Ga In NAs/ Ga As量子阱的影响(英文)

李联合, 潘钟, 张伟, 林耀望, 王学宇, 吴荣汉

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 31

使用 X射线衍射技术判定 Si C单晶体的结构和极性(英文)

郑新和, 渠波, 王玉田, 杨辉, 梁骏吾

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 35

GSMBE生长 1.8- 2.0μm波段In Ga As/ In Ga As P应变量子阱激光器

柏劲松, 方祖捷, 张云妹, 张位在, 陈高庭, 李爱珍, 陈建新

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 40

CMOS/SOI64Kb静态随机存储器

韩郑生, 周小茵, 海潮和, 刘忠立, 吴德馨

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 47

Si_(1-x-y)Ge_xC_y三元系材料的应变补偿特性

于卓, 李代宗, 成步文, 黄昌俊, 雷震霖, 余金中, 王启明, 梁骏吾

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 53

非晶硅薄膜的镍诱导横向晶化工艺及其特性

秦明, VincentM C Poon

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 57

金属诱导法低温多晶硅薄膜的制备与研究

刘传珍, 杨柏梁, 袁剑峰, 李牧菊, 吴渊, 寥燕平, 张玉, 王大海, 黄锡珉

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 61

宽带隙立方氮化硼薄膜制备

邓金祥, 王波, 严辉, 陈光华

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 66

电荷泵法研究FLASH擦工作时带带隧穿引起的界面损伤

苏昱, 朱钧, 陈宇川, 潘立阳, 刘志弘

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 69

发射极-基极-发射极结构PNP型AlGaAs/GaAsHBT电流增益的理论分析

严北平, 张鹤鸣, 戴显英

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 74

用模拟退火算法从S参数提取HFET小信号等效电路模型参数

陈俊, 刘训春

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 79

a-SiTFT/PIN图像传感器件

赵颖, 熊绍珍, 李璟, 周祯华, 李俊峰

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 83

32位定/浮点乘法器设计

于敦山, 沈绪榜

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 91

ECOP:一种基于单元行划分的标准单元模式增量布局算法

于泓, 姚波, 洪先龙, 蔡懿慈

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 96

针孔缺陷对集成电路功能成品率影响分析与仿真

马佩军, 郝跃, 刘红侠

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 102

倒装焊SnPb焊点热循环失效和底充胶的影响

陈柳, 张群, 王国忠, 谢晓明, 程兆年

Chin. J. Semicond. 2001, 22(1): 107