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Volume 5, Issue 3, Mar 1984

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LPE Ga_(1-x)Al_xAs/GaAs异质结缺陷研究

沈厚运, 梁骏吾, 褚一鸣

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 233-238

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 233.

沈厚运, 梁骏吾, 褚一鸣. LPE Ga_(1-x)Al_xAs/GaAs异质结缺陷研究[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 233..Export: BibTex EndNote

沈厚运, 梁骏吾, 褚一鸣. LPE Ga_(1-x)Al_xAs/GaAs异质结缺陷研究[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 233...

AlGaAs/GaAs异质结2-DEG的栅控特性和最挂掺杂

史常忻

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 239-246

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 239.

史常忻. AlGaAs/GaAs异质结2-DEG的栅控特性和最挂掺杂[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 239..Export: BibTex EndNote

史常忻. AlGaAs/GaAs异质结2-DEG的栅控特性和最挂掺杂[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 239...

SiCl_4外延生长硅晶体中碳沾污的热力学分析

徐宝琨, 赵慕愚

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 247-256

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 247.

徐宝琨, 赵慕愚. SiCl_4外延生长硅晶体中碳沾污的热力学分析[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 247..Export: BibTex EndNote

徐宝琨, 赵慕愚. SiCl_4外延生长硅晶体中碳沾污的热力学分析[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 247...

注氮硅的光学性质

许振嘉, 江德生, 孙伯康, 刘继光, 张泽华, 刘江夏

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 257-265

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 257.

许振嘉, 江德生, 孙伯康, 刘继光, 张泽华, 刘江夏. 注氮硅的光学性质[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 257..Export: BibTex EndNote

许振嘉, 江德生, 孙伯康, 刘继光, 张泽华, 刘江夏. 注氮硅的光学性质[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 257...

Si:Pd深能级的研究

阮圣央, 周洁, 张砚华, 吉秀江, 郑秉茹, 李树英, 杨锡权, 谭飞

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 266-274

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 266.

阮圣央, 周洁, 张砚华, 吉秀江, 郑秉茹, 李树英, 杨锡权, 谭飞. Si:Pd深能级的研究[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 266..Export: BibTex EndNote

阮圣央, 周洁, 张砚华, 吉秀江, 郑秉茹, 李树英, 杨锡权, 谭飞. Si:Pd深能级的研究[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 266...

硅衬底厚度和背接触势垒高度对MOS电容器性能的影响

夏永伟, 孔令坤, 张冬萱

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 275-283

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 275.

夏永伟, 孔令坤, 张冬萱. 硅衬底厚度和背接触势垒高度对MOS电容器性能的影响[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 275..Export: BibTex EndNote

夏永伟, 孔令坤, 张冬萱. 硅衬底厚度和背接触势垒高度对MOS电容器性能的影响[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 275...

精密单片视频绝对值变换器

易明銧

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 284-290

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 284.

易明銧. 精密单片视频绝对值变换器[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 284..Export: BibTex EndNote

易明銧. 精密单片视频绝对值变换器[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 284...

一个低功耗电阻负载的NMOS SRAM的设计

祝忠德, 陈贤, 宁宝俊, 盛世敏

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 291-300

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 291.

祝忠德, 陈贤, 宁宝俊, 盛世敏. 一个低功耗电阻负载的NMOS SRAM的设计[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 291..Export: BibTex EndNote

祝忠德, 陈贤, 宁宝俊, 盛世敏. 一个低功耗电阻负载的NMOS SRAM的设计[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 291...

薄膜型SnO_2气敏元件初探

沈瑜生, 张云昌

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 301-306

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 301.

沈瑜生, 张云昌. 薄膜型SnO_2气敏元件初探[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 301..Export: BibTex EndNote

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由电容温度关系分析HgCdTe深能级特性

童斐明, 杨秀珍, 王戎兴

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 307-310

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 307.

童斐明, 杨秀珍, 王戎兴. 由电容温度关系分析HgCdTe深能级特性[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 307..Export: BibTex EndNote

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半导体激光器稳态特性的数值分析

孟庆巨, 刘忠玉, 张宏伟, 冯果忱, 高鼎三

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 311-315

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 311.

孟庆巨, 刘忠玉, 张宏伟, 冯果忱, 高鼎三. 半导体激光器稳态特性的数值分析[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 311..Export: BibTex EndNote

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Pt/Si和Pd/Si肖特基接触的XPS研究

戴道宣, 鲍敏杭, 田曾举, 姜国宝

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 316-319

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 316.

戴道宣, 鲍敏杭, 田曾举, 姜国宝. Pt/Si和Pd/Si肖特基接触的XPS研究[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 316..Export: BibTex EndNote

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非晶态硅氯氢薄膜的光电导

孔光临, 杨喜荣, 刘昌灵, 郑秉茹, 李禾

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 320-322

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 320.

孔光临, 杨喜荣, 刘昌灵, 郑秉茹, 李禾. 非晶态硅氯氢薄膜的光电导[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 320..Export: BibTex EndNote

孔光临, 杨喜荣, 刘昌灵, 郑秉茹, 李禾. 非晶态硅氯氢薄膜的光电导[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 320...

在N型硅中激光掺金

傅春寅, 鲁永令

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 323-326

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 323.

傅春寅, 鲁永令. 在N型硅中激光掺金[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 323..Export: BibTex EndNote

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在深量子阱中的库仑杂质态

刘振鹏

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 327-330

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 327.

刘振鹏. 在深量子阱中的库仑杂质态[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 327..Export: BibTex EndNote

刘振鹏. 在深量子阱中的库仑杂质态[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 327...

氢在GaAs(110)表面吸附的研究

蒋平, 杨志宇, 陈福浩

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 331-335

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 331.

蒋平, 杨志宇, 陈福浩. 氢在GaAs(110)表面吸附的研究[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 331..Export: BibTex EndNote

蒋平, 杨志宇, 陈福浩. 氢在GaAs(110)表面吸附的研究[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 331...

一种稳定的Pd栅MOS场效应晶体管

刘家泰, 张秋江, 黄启成, 陆文兰

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 336-338

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 336.

刘家泰, 张秋江, 黄启成, 陆文兰. 一种稳定的Pd栅MOS场效应晶体管[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 336..Export: BibTex EndNote

刘家泰, 张秋江, 黄启成, 陆文兰. 一种稳定的Pd栅MOS场效应晶体管[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 336...

Ga_xIn_(1-x)P-GaAs的液相外延生长

虞丽生, 刘宏勋, 陈娓兮, 何晖, 孙毅, 吴镭

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 339-341

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 339.

虞丽生, 刘宏勋, 陈娓兮, 何晖, 孙毅, 吴镭. Ga_xIn_(1-x)P-GaAs的液相外延生长[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 339..Export: BibTex EndNote

虞丽生, 刘宏勋, 陈娓兮, 何晖, 孙毅, 吴镭. Ga_xIn_(1-x)P-GaAs的液相外延生长[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 339...

1983年全国砷化镓和有关化合物学术交流会在上海召开

彭瑞伍

Chin. J. Semicond. 1984, 5(3): 342-344

Abstract PDF Cited by ()

null. null[J]. Chin. Journal of Semiconductors, 1984, 5(3): 342.

彭瑞伍. 1983年全国砷化镓和有关化合物学术交流会在上海召开[J]. Chin. J. Semicond., 1984, 5(3): 342..Export: BibTex EndNote

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